مروری بر روش‌های نانو فناوری نشان گذاری اجناس و اسناد در مقابله با جعل و قاچاق

نوع مقاله : مقاله پژوهشی

نویسندگان

1 دانشگاه صنعتی مالک اشتر، تهران

2 شرکت سپهرپلیمر سپاهان، اصفهان

چکیده

جعل کالا و کالاهای تقلبی صدمات فراوانی بر پیکر اقتصاد ملی کشور وارد و فعالیت اقتصادی کشور را تحت الشعاع قرار داده و دچار اختلال می‌کند، لذا در این راستا متاسفانه مشکلاتی همانند کاهش تولید داخلی و افزایش بیکاری و کاهش سرمایه گذاری را به همراه داشته است. روش های موجود برای نشان گذاری اجناس و اسناد با تمام مزایایی که دارا می باشند، قابل کپی برداری در طی 18 ماه می باشند. پرکاربردترین روشها شامل: هولوگرام، بارکدها ، شناسایی با امواج رادیویی، تصدیق سطح لیزری هستند. ازاین رو برآن شدیم تا دراین مقاله مروری به توضیح روش هایی جدیدی که در برخی کشورها برای نشان گذاری اجناس و اسناد مورد استفاده است بپردازیم. روش های جدید مورد استفاده شامل: روش هایی بر پایه فناوری نانو، روش هایی بر پایه دی ان ای می باشند.
 

کلیدواژه‌ها


عنوان مقاله [English]

An overview of nanotechnology methods for marking goods and documents in dealing with counterfeiting and smuggling

[1]. Phau and MJ.Jocm. Teah Journal of consumer marketing, 2615 27.(2009).
[2].S. ModiandS.J.CP. Wadhwa.csc (2009).
[3].D. Bansal, S. Malla, K. Gudala, and P. TiwariSci Pharm, 81. 1-
13.(2013).
[4].HI. Bjelkhagen and E. Mirtis Applied Optics 47. A123.(2008).
[5]. S.F. Johnston Leonardo,41 223-229/(2008)
[6].https://www.americanscientist.org/artide/whatever became ofholography
[7]. A. Sharma and D. Thomas Journal of Information Systems Applied Research, 7.25.(2014).
[8].A.A.Smith-DitizioandA.D.Smith5273-5284/(2018).
[9].https://www.barcoding.com/resources barcoding basics/thehistory: of barcodes
[10]K.Erten and B.O.Turan.Sahibi/owner, 1. 114-125.(2017). 11.CM.J.C.Robertsand security.Computers& Security, 25 18- 26.(2006).
[11].C.M.J.C.Robertsand security.Computers & Security, 25. 18-
26.(2006).
[12].M.Cardullo RFID JOURNAL, 1-3.(2003).
[13].M.JR.J.Cardullo RFID JOURNAL, 2, 13-15.(2005).
[14].R.J.C.P.Cowbum.Contemporary Physics, 49.331-342.(2008).
[15]J.D. Buchanan, R.P.Cowbum,A-V. Jausovec, D.Petit, P. Seem, G. Xiong, D. Atkinson, K. Fenton, DA, Allwood, and MT.JN. Bryannature, 436 475.(2005).
[16].RJ.SP.T.FF.M.CG.Cowburn, 281-303.(2008).
[17].S.R.Nicewamer-Pena,RG. Freeman, B.D. Reiss, L.He, D.J. Pena, LD.Walton, R. Cromer, CD. Keating, and M.J.
Natan Science, 294 137-41.(2001).
[18].LD. Walton, SM. Norton, A. Balasingham, L. He, D.F. Oviso, D. Gupta, PA. Raju MJ. Natan, and RGJA.C.
Freeman Analytical chemistry74, 2240-2247/(2002).
[19].B.D.Reiss, RG. Freeman, LD. Walton,SM. Norton, P.C. Smith, W.G.Stonas, CD.Keating and M.J.J.Jo.E.C.Natan Journal
of Electroanalytical Chemistry, 522 95-103.(2002)..
[20]. S.Shikha, T.Salafi, J. Cheng, and Y. Zhang Chem Soc Rev, 46.7054-7093.(2017).
[21]. .S.G. Pern, S.M.Norton, ID.Walton, RG.Freeman, and G.
Davis Optical Security and
Techniques V,5310 337-341.(2004).
[22].http://msuttechnologypublisher.com/technology/23679.
[23].K.Kneipp, H. Kneipp, LItzkan, R.R.Dasari, and MS. Feld Journal of
[24]P.L.Slites, et al, Anel Chem 601, (2008)
[25]. K.Kneipp,M. Moskovits, and H. Kneipp, 103(2006).
[26]. Y. Cui, RS. Hegde,LY. Phang HK Lee, and XY. Ling Nanoscale, 6.
282-8(2014).
[27].MR. Shirdar, N.Farajpour, R.
Shahbazian-Yassar, and T.
Shokuhfar Frontiers of Chemical Scienceand Engineering
13.1-13.(2019).
[28].J. Zhao, Z. Wei, X. Feng, M.Miao, L.Sun, S. Cao, L. Shi, and J. Fang ACS Appl Mater Interfaces,6 14945-51.(2014).
[29]. https://www.nanotechnow.com/news.cgi?story_id=39292
[30].http://www.bilcare.com/businesses/bilcare technologie2.htm.
[31].J. Kim, JM. Yun, J. Jung, H. Song, J.B.Kim, and H. Thee.Nanotechnology, 25, 155303.(2014).
[32]. KG. Lee, B.G. Choi, B.I. Kim, T. Shyu, MS. Oh,SG. Im, SJ. Chang, T.J.Lee,NA. Kotov, and SJ. Lee.Adv Mater, 26 6119-
[33].JA.Haywardand J. Meraglia International Symposium
Microelectronics 2011.107-112.(2011).
[34]. james A. Hayward TAPPIPLACE Annual Meeting (2007).
[35].https://ghr.nlm.nih.gov/primer/basics/dna.
[36].https://www.selectadna.co.uk/about-us.
[37]. http://www.adnas.com.
[38].https://www.nanosecurity.ca/products/kolouroptik/.
[39]. https://www.crunchbase.com/organization/nanoplex-
technologies#section-overview.
[40]. A. Baride, J.M. Meruga, C.Douma, D.Langerman, G. Crawford,J.J. May RSC Advances,5
Kellar, WM. Cross, and P.S.
101338-101346(2015).
[41].JM. Meruga, C. Fountain, J. Kellar, G.Crawford, A. Baride,P.S. May,
W.Cross,and R
Hoover. International Journal of
Computers and Applications,37. 17-27.(2015)
[42].https://www.crunchbase.com/organization/securemarking#section-
overview.
[43].http://www.nanobrick.co.kr/en/product en/security/m-tag
[44].https://statnano.com/news/62396.
[45].M.S. Beck, H.S. Lackritz, and J.W. Ward.(2015).
[46].https://www.lockheedmartin.com/en-us/index.html